JIA Jiqiang (贾纪强),  西安理工大学 现代分析测试中心 准教授

滞在期間 2023. 02. 07 - 2024. 02. 06

 


Dr. CHEN, Tongmin (陳 桐民)

日本電子北京

在籍期間: 2017.04 - 2023.03

修士論文:STEMモアレフリンジ法によるInP/InGaAs/InP界面の局所歪み解析
学位論文:二軸傾斜機能を備えたTEMホルダーの開発と薄膜化されたシリコンのナノインデンテーション観察

LIN, Fan (林 凡)
"Annealing temperature dependence of Metatitanic Acid structure change observed by TEM"


博士1年 ZHANG, Yuanhao (張 元昊)

2022年11月 松見研に移りました。


Dr. LIU, Chunmeng (刘 春萌)

鄭州大学 講師

ORCID iD iconhttps://orcid.org/0000-0002-7442-9083

在籍期間 2017.10 - 2022.07

Doctoral thesis

"Structure-Dependent Electrical Conductance of Suspended Graphene Nanoribbon by In-situ Transmission Electron Microscopy Observation"

Dr.  ZHANG, Jiaqi (张 家奇)

鄭州大学 物理学院 准教授

在籍期間  2017.10 - 2022.07

Doctoral thesis

"A study of atomic scale mechanics by in situ transmission electron microscopy with a quartz length-extension resonator"


YANG, Tingting (杨婷婷)

「Development of TEM-MCBJ method and measurement of semiconductor nanowire piezoresistive effect」

髙木 佑磨

「全固体電池内のイオン伝導を可視化する顕微オペランド法の開発」

向濱 晃正


Dr. XIE, Lilin (谢 立林)

北京工業大学 研究員

ORCID iD iconhttps://orcid.org/0000-0003-1701-0718

在籍期間 2018.10 - 2021.12

Doctoral thesis

"Study of strain dependence of physical properties in MoS2 layers by in situ transmission electron microscopy observation"


張 暁賓(Dr. Zhang, Xiaobin)

芝浦工業大学 准教授 / 北京科技大学 准教授
google scholar

在籍期間 2016.04 - 2019.03
研究テーマ:TEM法による2次元物質の位相イメージング・グラフェン伝導現象

Recent paper: Ultramicroscopy 158, 49-55 (2015).


Dr. CHIEW, Yi Ling (招 宜伶)

From 2021.04より 大阪大学 産業科学研究所 末永研究室 研究員
          From 2023.03より 理化学研究所 創発物性科学研究センター 電子状態マイクロスコピー研究チーム 技師

ORCID iD iconhttps://orcid.org/0000-0003-1662-0282

在籍期間 2017.04 - 2021.03

Doctoral thesis

"A Study on Ordering of Fe Atoms in FeXTiS2 Structures and Their Magnetic Properties"


Dr. Zhao, Lei 
上海交通大学 研究員
在籍期間 2017.10 - 2018.10 (CSC奨学生)

Prof. Lei. Li

西安理工大学 现代分析测试中心

在籍期間 2017.9 - 2018.8


石塚 慧介 博士

 

学位論文:水晶振動子力センサーを組み込んだ透過型電子顕微鏡法による金ナノ接点の機械特性の研究
修士論文: ナノ接点力学特性を解明するためのFM 力センサーを用いたTEM その場観察法の開発 (JAIST) 

学会発表:日本物理学会、日本顕微鏡学会、応物学会、IVC20 など


藤嶋 紘充

「TEM-STM法によるシリコンナノ接点その場電気伝導計測」

福本 航大

「GaSeナノリボン電気伝導に関するその場TEM計測」

河村 惟友

「透過型電子顕微鏡を用いたメタチタン酸の構造解析」

本田 航一朗

「水晶振動子力センサーを組み込んだTEM観察法による金ナノ接点の剛性率の計測」


塩澤 大輝

「SEM用電気化学セルの開発によるリチウムイオン電池その場計測」

細川 嵩道

「長辺振動水晶振動子の力学センサーを取り付けたTEMホルダーによる金ナノ接点の力学特性計測」


大久保 諒

「サスペンデッドグラフェンナノリボンデバイスの作製」

 黒田 雄貴

「TEM-STMホルダーを用いたシリコンナノワイヤの評価」

小堀 雄稀

「UHV-TEMに組み込んだ周波数変調型力学測定による金ナノ接点ヤング率の方位依存性の解明」

CHEN, Xin

「Fabrication of silicon nitride membrane chip for operando SEM observation of pitting corrosion process of Al foil」


水谷 加奈子
修士論文:GNRの電気伝導特性を解明するためのナノデバイスの作製とその計測用TEMホルダーの開発 (JAIST) 

学会発表:応物学会、NANO SciTech 2018 など

HE, Gada
修士論文:Development of electrochemical cell for in-situ scanning electron microscopy (JAIST) 

学会発表:応物学会 など


(金沢大学 新井研究室) 村上 拓

「TEM-AFM法によるナノ接点力学特性の解明(仮)」

(金沢大学 新井研究室) 橋本 遼太
修士論文:金ナノ接点における電気伝導と力学的特性の相関関係の解析(金沢大学)

学会発表:応物学会(2回)、日本表面科学会 など


短期留学生   CHEN, Xueting 

(Xi'an University of Technology)  From September 1 to November 29

Tara Prasad Mishra

Singapore-MIT Alliance (NUS-MIT), PhD candidate
Graduated from Indian Institute of Science (IISc), Bangalore
email: tara.13.1996@gmail.com

研究テーマ:熱電材料の原子分解能STEM観察


研究員 Amer Hassan (エジプト)
M1-65室, 0761-51-1500, email: AmerSTM , google scholar
研究テーマ:TEM/TED法による有機薄膜の構造解析

 

サムスン電子 金 秀鉉
google scholar

サムスン電子 李 少淵
google scholar

東工大  名誉教授  高柳邦夫

東工大  助教    谷城康眞 

名城大学 准教授   田中崇之

連絡先

北陸先端科学技術大学院大学 先端科学技術研究科 先端科学技術専攻 大島研究室

Japan Advanced Institute of Science and Technology, Oshima Labratory

〒923-1292 石川県能美市旭台1-1M1棟 61号室

Room 61, M1 building, 1-1 Asahidai, Nomi, Ishikawa 923-1292 Japan

Tel:(0761) 51 1500