電子デバイスのさらなる小型化を目指し、原子スイッチなど原子そのものを制御するようなナノデバイスが研究されています。これに伴い、金属ナノ接点などの電気伝導特性や力学特性に大きな関心が集まっています。しかしながら、金属ナノ接点の力学特性は、接点構造と密生に関係していることが指摘されているものの、そのような分析装置がないため、解明されていませんでした。

　そこで，金属ナノ接点の力学特性を調べるため，私達の研究室では力計測センサー（原子間力顕微鏡（AFM）で用いられている手法の一つ）を組み込んだTEM-AFMホルダーを作製しました。これを用いて、TEM内で金属ナノ接点を作製し、その構造を観察しながら力学特性を測定することが可能になりました。

　実験例をみると，aからdに変化していくにつれて金接点が細くなり、同時にばね定数も小さくなっていることが分かります。このようにTEM-AFMホルダーを用いることでナノ接点の構造変化に応じた力学特性を収得することができます。